High frequency ultrasonic detection of C-crack defects in silicon nitride bearing balls

F Deneuville1, M Duquennoy, Ouaftouh

  • 1Département d'Opto-Acousto-Electronique, UMR CNRS 8520, Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, Université de Valenciennes, Le Mont Houy, Valenciennes, France.

Ultrasonics
|July 29, 2008
PubMed

Related Concept Videos