El patrón de carga del submicrómetro en los electretos de película delgada

H O Jacobs1, G M Whitesides

  • 1Department of Chemistry and Chemical Biology, Harvard University, 12 Oxford Street, Cambridge, MA 02138, USA. hjacobs@gmwgroup.harvard.edu

Science (New York, N.Y.)
|March 7, 2001
PubMed
Resumen

Los investigadores desarrollaron una nueva técnica para modelar electretos de película delgada con carga atrapada a alta resolución. Este método de electrodo flexible permite el patrón submicrómetro para el almacenamiento de datos potenciales y aplicaciones de impresión.