Desprotección de aminas inducida por AFM: desencadenando la escisión de enlaces localizados mediante la aplicación de

Zachary M Fresco1, Itai Suez, Scott A Backer

  • 1Department of Chemistry, University of California Berkeley, Berkeley, California, 94720-1460, USA.

Resumen

Los investigadores desarrollaron un método para crear patrones a nanoescala utilizando un microscopio de fuerza atómica sesgado por voltaje (AFM). Esta técnica desprotege selectivamente las aminas protegidas por alfa, alfa-dimetil-3,5-dimetoxibencilosicarbonilo (DDZ), lo que permite un ensamblaje molecular preciso para materiales avanzados.