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Confocal Fluorescence Microscopy01:16

Confocal Fluorescence Microscopy

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Confocal microscopy is an advanced microscopic technique. The prime advantage of the confocal microscope over other microscopy techniques is its ability to block the out-of-focus light from the illuminated samples using pinholes. It is widely used with fluorescence optics to obtain high-resolution, sharp contrast images. Unlike optical microscopes, confocal microscopes use a focused beam of light laser to scan the entire sample surface at different z-planes. These microscopes are, therefore,...
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Un láser de silicio Raman de onda continua es un láser de silicio Raman de onda continua.

Haisheng Rong1, Richard Jones, Ansheng Liu

  • 1Intel Corporation, 2200 Mission College Blvd, CHP3-109, Santa Clara, California 95054, USA. haisheng.rong@intel.com

Nature
|February 18, 2005
PubMed
Resumen
Este resumen es generado por máquina.

Los investigadores desarrollaron un láser Raman de silicio de onda continua mediante la reducción de la pérdida óptica no lineal. Este avance supera un obstáculo importante en la fotónica de silicio, permitiendo una salida láser estable y ajustable para dispositivos optoelectrónicos avanzados.

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Área de la Ciencia:

  • La fotónica es la fotónica.
  • Ciencia de los materiales Ciencia de los materiales.
  • Física de los semiconductores Física de los semiconductores

Sus antecedentes:

  • La brecha de banda indirecta del silicio limita la eficiencia de la emisión de luz, lo que plantea desafíos para la fotónica basada en silicio.
  • La dispersión Raman estimulada ha permitido el láser de silicio, pero anteriormente estaba restringida a la operación pulsada debido a las pérdidas ópticas no lineales.

Objetivo del estudio:

  • Para demostrar un láser Raman de silicio de onda continua (CW).
  • Para superar las limitaciones de la absorción del portador libre (FCA) inducida por la absorción de dos fotones (TPA) en las guías de onda de silicio.

Principales métodos:

  • Integró un diodo p-i-n de sesgo inverso dentro de una guía de onda de silicio para mitigar el FCA inducido por TPA.
  • Utilizó películas dieléctricas multicapa en las facetas de la guía de onda para formar la cavidad del láser.
  • Empleado estimuló la dispersión de Raman para la amplificación de la luz y el láser.

Principales resultados:

  • Se logró una salida láser de modo único estable con una supresión de modo lateral superior a 55 dB.
  • Demostró un ancho de línea estrecho de menos de 80 MHz.
  • Se observó que el umbral de láser depende del voltaje de sesgo inverso p-i-n y la longitud de onda del láser de la bomba.

Conclusiones:

  • Se ha demostrado con éxito el primer láser Raman de silicio de onda continua.
  • La integración de un diodo p-i-n de sesgo inverso reduce efectivamente la pérdida óptica no lineal en el silicio.
  • Este avance es un hito significativo para la optoelectrónica basada en silicio y la fotónica integrada.