Electrostatic Boundary Conditions in Dielectrics
Fermi Level Dynamics
Metal-Semiconductor Junctions
Schottky Barrier Diode
Electrochemical Systems
The Electrical Double Layer
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Updated: Jul 14, 2026

In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices
Published on: June 26, 2015
Alexander Punnoose1, Alexander M Finkel'stein
1Bell Laboratories, Lucent Technologies, Murray Hill, NJ 07974, USA. punnoose@lucent.com
Identificamos un punto crítico cuántico en sistemas electrónicos bidimensionales desordenados, explicando cómo las interacciones y el desorden impulsan la transición metal-aislador y el comportamiento termodinámico crítico.
Área de la Ciencia:
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Principales resultados:
Conclusiones: