Fluorescencia, XPS y TOF-SIMS análisis de imágenes de estado químico superficial de microarrays de ADN

Chi-Ying Lee1, Gregory M Harbers, David W Grainger

  • 1National ESCA and Surface Analysis Center for Biomedical Problems, Department of Bioengineering, University of Washington, Seattle, WA 98195-1750, USA.

Resumen

Las técnicas avanzadas de imagen como la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) y la espectrometría de masa de iones secundarios en tiempo de vuelo (TOF-SIMS) caracterizan con precisión el ADN en las superficies. Esto mejora las superficies modificadas por ADN para biosensores y microarrays al detallar las eficiencias de inmovilización e hibridación.