Directionality of Nuclear Transport
Semiconductors
Types of Semiconductors
Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Diode: Forward bias
También podría leer
Artículos vinculados a este trabajo por autores compartidos, revista y gráfico de citas.
Updated: Jun 20, 2026

Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
Published on: December 5, 2015
No abstract available in PubMed .