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Updated: Jul 12, 2026

Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating
Published on: October 11, 2016
Radiografías coherentes sintonizables de rayos X.
Una nueva instalación de radiación sincrotrón producirá rayos X suaves tipo láser para la investigación avanzada. Esta tecnología permite el microsondeo detallado de muestras biológicas y de materiales, superando las capacidades actuales de láser de laboratorio.
Área de la Ciencia:
- Física La física es la física.
- Ciencia de los materiales Ciencia de los materiales.
- La biofísica es la biofísica.
Sus antecedentes:
- Los láseres XUV de laboratorio actuales carecen de las capacidades para la microsondación avanzada.
- Es posible que las instalaciones de sincrotrón existentes no ofrezcan la coherencia y sintonizabilidad requeridas para aplicaciones de investigación específicas.
Objetivo del estudio:
- Describir las capacidades de una instalación de radiación sincrotrón propuesta de 1 a 2 mil millones de electrones-voltios.
- Para resaltar las aplicaciones potenciales de los rayos X blandos coherentes generados por esta instalación.
Principales métodos:
- Utilizando haces de electrones de alto brillo y onduladores magnéticos en un sincrotrón.
- Generando rayos X suaves ampliamente sintonizables con longitudes de onda tan cortas como 10 angstroms.
Principales resultados:
- Producción de rayos X suaves coherentes, parecidos a los rayos láser.
- La sintonizabilidad de longitud de onda se reduce a 10 angstroms.
- Potencial para el microprobado y la microfabricación sensibles a fases y elementos.
Conclusiones:
- La instalación sincrotrón propuesta ofrece capacidades únicas de longitud de onda corta cruciales para la investigación biológica y de materiales.
- Estas capacidades, incluido el acceso al borde de absorción K para C, N y O, no están disponibles con los láseres XUV de laboratorio actuales.
- Los anillos de almacenamiento de energía más altos (5-6 GeV) son menos adecuados debido a la coherencia reducida y al aumento de la carga térmica del componente óptico.

