Microscopía de fuerza atómica de repisas a escala atómica y hoyos de grabado formados durante la disolución del

Science (New York, N.Y.)
|March 15, 1991
PubMed
Resumen

La microscopía de fuerza atómica reveló salientes a escala nanométrica y hoyos de dislocación durante la disolución del cuarzo. Esto confirma los modelos de movimiento de la repisa para el crecimiento de los cristales de silicato y la cinética de disolución.