Tomografía del estado de espín de electrones inyectados ópticamente en un semiconductor

Hideo Kosaka1, Takahiro Inagaki, Yoshiaki Rikitake

  • 1Laboratory for Nanoelectronics and Spintronics, Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan. kosaka@riec.tohoku.ac.jp

Nature
|February 6, 2009
PubMed
Resumen

Desarrollamos la rotación de Kerr tomográfica, un nuevo método para medir directamente la coherencia del espín del electrón. Esta técnica permite la tomografía de estado de espín para aplicaciones avanzadas de tecnología de información cuántica.