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Updated: Jun 22, 2026

Single-Digit Nanometer Electron-Beam Lithography with an Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope
Published on: September 14, 2018
Seth Kruger1, Sri Revuru, Craig Higgins
1College of Nanoscale Science and Engineering, University at Albany, Albany, New York 12203, USA.
Se desarrollaron nuevos amplificadores ácidos para fotorresistentes ultravioleta extrema (UVE). Estos compuestos generan ácidos que mejoran la resolución, la sensibilidad y reducen la rugosidad del borde de la línea (LER) en la litografía EUV.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: