Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Electrostatic Boundary Conditions in Dielectrics
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Updated: Jun 12, 2026

In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices
Published on: June 26, 2015
Santiago Martín1, Iain Grace, Martin R Bryce
1Centre for Nanoscale Science and Department of Chemistry, University of Liverpool, Liverpool L69 7ZD, UK.
El control químico de las uniones moleculares es clave para la electrónica molecular. Este estudio demuestra el apilamiento de pi en las uniones de oligfenilenetinile, permitiendo el flujo de corriente y mostrando el potencial para nuevos dispositivos electrónicos.
Área de la Ciencia:
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Principales resultados:
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