Topografía sin contacto simultánea y imágenes electroquímicas por SECM/SICM con regulación de retroalimentación de

Yasufumi Takahashi1, Andrew I Shevchuk, Pavel Novak

  • 1Graduate School of Environmental Studies, Tohoku University, Aramaki Aoba 6-6-11-605, Sendai 980-8579, Japan.

Resumen

Desarrollamos un sistema híbrido de escaneo electroquímico y microscopía de conductividad iónica (SECM/SICM) para imágenes simultáneas de topografía y especies electroquímicas. Esta avanzada técnica ofrece una resolución submicrométrica para complejas superficies biológicas y materiales.