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Updated: Jun 2, 2026

Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
Published on: July 30, 2013
1Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA 02139, USA.
Los investigadores descubrieron una mejora significativa en la capacitancia de la puerta en las estructuras de transistores de efecto de campo. Este hallazgo, observado cerca del agotamiento de electrones en las interfaces LaAlO{3}/SrTiO{3}, podría conducir a dispositivos electrónicos más eficientes y de menor potencia.
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