Las transiciones de la estructura electrónica superficial a alta temperatura en los óxidos de perovskita: el caso de

Zhuhua Cai1, Yener Kuru, Jeong Woo Han

  • 1Laboratory for Electrochemical Interfaces, Department of Nuclear Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, 77 Massachusetts Avenue, Cambridge, Massachusetts 02139, United States.

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Resumen

La investigación de las películas delgadas de La{0.8}Sr{0.2}CoO{3} tensadas para las pilas de combustible de óxido sólido (SOFC) revela una transición inducida por la temperatura de semiconductor a metálico. Esta transición mejora la actividad superficial para la reducción de oxígeno, crucial para el desarrollo del cátodo SOFC.

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