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Updated: May 4, 2026

Atom Probe Tomography Studies on the CuIn,GaSe2 Grain Boundaries
Published on: April 22, 2013
Dinh Loc Duong1, Gang Hee Han, Seung Mi Lee
1Sungkyunkwan Advanced Institute of Nanotechnology, Sungkyunkwan University, Suwon 440-746, South Korea.
Este estudio introduce un método de microscopía óptica para visualizar los límites de granos de grafeno de gran área sin transferencia de muestras. La técnica revela cómo estos límites afectan las propiedades eléctricas y la integridad mecánica, ofreciendo una nueva herramienta para la ciencia de los materiales.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: