Observación de las colisiones de nanopartículas semiconductoras individuales por corrientes fotoelectroquímicas

Ashantha Fernando1, Suman Parajuli, Mario A Alpuche-Aviles

  • 1Department of Chemistry, University of Nevada, Reno, Nevada 89557, USA.

Resumen

Este estudio introduce un nuevo método fotoelectroquímico (PEC) para detectar nanopartículas semiconductoras individuales (NPs). La técnica utiliza los cambios de corriente en un ultramicroelectrodo (UME) para rastrear las interacciones de nanopartículas y los procesos de fotooxidación.

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