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Fabrication of Gate-tunable Graphene Devices for Scanning Tunneling Microscopy Studies with Coulomb Impurities
Published on: July 24, 2015
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Defectos de vacío subnanométricos introducidos en el grafeno por el gas oxígeno
Yasuhiro Yamada1, Kazumasa Murota, Ryo Fujita
1Department of Applied Chemistry and Biotechnology, Chiba University , 1-33 Yayoi, Inage, Chiba 263-8522, Japan.
Journal of the American Chemical Society
|January 28, 2014
Resumen
Los investigadores crearon y observaron vacantes subnanométricas en el grafeno.
Área de la Ciencia:
- Ciencia de los materiales Ciencia de los materiales.
- Química de las superficies.
- Nanotecnología La nanotecnología es la nanotecnología.
Sus antecedentes:
- El plano basal del grafeno es generalmente menos reactivo que sus bordes.
- Estudios anteriores observaron vacantes a escala nanométrica en el plano basal del grafeno después de la exposición al oxígeno.
- La observación directa de las vacantes de subnanómetro ha sido un desafío.
Objetivo del estudio:
- Introducir y observar vacantes subnanométricas en el plano basal del grafeno.
- Investigar las características estructurales de estas vacantes.
- Para comprender la interacción del oxígeno a baja temperatura con los planos basales del grafeno.
Principales métodos:
- Tratamiento térmico del grafeno en un flujo de gas oxígeno a temperaturas de 533 K o menos.
- Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (HRTEM) para la observación directa de las vacantes.
- Comparación de imágenes experimentales de HRTEM con simulaciones de imágenes.
Principales resultados:
- Introdujo y observó con éxito vacantes subnanométricas en el plano basal del grafeno.
- Identificó las estructuras de vacantes propuestas, incluidos los grupos de carbonilo (CO), éter tipo pirano y lactona.
- Se ha demostrado la formación de huecos a bajas temperaturas (≤533 K).
Conclusiones:
- Las vacantes subnanométricas se pueden formar en el plano basal del grafeno a través del tratamiento de oxígeno a baja temperatura.
- HRTEM es eficaz para la caracterización de estos defectos a pequeña escala.
- Las estructuras observadas proporcionan información sobre la reactividad del plano basal del grafeno con el oxígeno.
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