Caracterización de una reacción superficial por medio de la microscopía de fuerza atómica

Florian Albrecht1, Niko Pavliček1, Coral Herranz-Lancho2

  • 1†Institute of Experimental and Applied Physics, University of Regensburg, 93053 Regensburg, Germany.

Resumen

Este estudio utiliza la microscopía de fuerza atómica (AFM) para analizar una reacción de planarización activada térmicamente en la superficie. Los investigadores determinaron las estructuras 3D de las moléculas helicoidales y sus productos de reacción, avanzando en la caracterización molecular.