Metal-Semiconductor Junctions
Fermi Level Dynamics
Semiconductors
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Electric Field at the Surface of a Conductor
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Updated: Mar 27, 2026

Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
Published on: December 5, 2015
Papatya C Sevinc1, Bharat Dhital1, Vishal Govind Rao1
1Department of Chemistry and Center for Photochemical Sciences, Bowling Green State University , Bowling Green, Ohio 43403, United States.
Un campo eléctrico aplicado altera el acoplamiento vibratorio en la interfaz alizarina-TiO2, impactando la dinámica de transferencia de carga. Este estudio revela cómo los campos eléctricos influyen en las interacciones entre moléculas y semiconductores y en la transferencia de electrones.
Área de la Ciencia:
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Principales resultados:
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