Semiconductors
High-Performance Liquid Chromatography: Elution Process
Types of Semiconductors
Metal-Semiconductor Junctions
Enthalpy of Solution
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
También podría leer
Artículos vinculados a este trabajo por autores compartidos, revista y gráfico de citas.
Updated: Feb 4, 2026

Comprehensive Characterization of Extended Defects in Semiconductor Materials by a Scanning Electron Microscope
Published on: May 28, 2016
Zhaoyang Lin1, Yuan Liu2,3, Udayabagya Halim1
1Department of Chemistry and Biochemistry, University of California, Los Angeles, CA, USA.
Los investigadores desarrollaron un nuevo método para crear nanohojas de semiconductores bidimensionales (2D) procesables en solución de alta calidad. Este avance permite la fabricación de electrónica avanzada con un rendimiento y una versatilidad significativamente mejorados.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: