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Microscopía de túnel de barrido y microscopía de fuerza atómica: aplicación a la biología y la tecnología

P K Hansma1, V B Elings, O Marti

  • 1Department of Physics, University of California, Santa Barbara 93106.

Science (New York, N.Y.)
|October 14, 1988
PubMed
Resumen

La microscopía de sonda de barrido, incluida la microscopía de túnel de barrido (STM) y la microscopía de fuerza atómica (AFM), logra detalles de superficie a nivel atómico. Estas técnicas permiten obtener imágenes de diversos materiales, desde semiconductores hasta muestras biológicas y componentes tecnológicos.

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