Nuevo enfoque directo para determinar la velocidad de cruce inversa entre sistemas en emisores fluorescentes

Ricardo Javier Vázquez1, Ju Hui Yun2, Angelar K Muthike1

  • 1Department of Chemistry, University of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, United States.

Resumen

Desarrollamos un nuevo método óptico para medir el cruce inverso entre sistemas (k_rISC) en materiales fluorescentes retardados activados térmicamente (TADF). Los valores más altos de k_rISC se correlacionan con una mayor eficiencia y estabilidad de los diodos orgánicos emisores de luz (OLED).