Crio-EM con movimiento de la muestra inferior a 1 Å

Katerina Naydenova1, Peipei Jia1,2, Christopher J Russo3

  • 1MRC Laboratory of Molecular Biology, Cambridge CB2 0QH, UK.

Science (New York, N.Y.)
|October 9, 2020
PubMed
Resumen

El movimiento de partículas en la microscopía electrónica criogénica (cryo-EM) es causado por la deformación del hielo. Un nuevo diseño de soporte de muestras minimiza este movimiento, permitiendo imágenes y análisis de cryo-EM de mayor calidad antes de que ocurra el daño por radiación.