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Updated: Nov 21, 2025

Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics
Published on: September 28, 2016
Carolyn L Hartley1, Melody L Kessler1, Jillian L Dempsey1
1Department of Chemistry, University of North Carolina, Chapel Hill, North Carolina 27599-3290, United States.
Comprender las superficies de nanocristales de semiconductores es clave para mejorar la eficiencia del dispositivo. La combinación de métodos experimentales y computacionales ofrece una visión a nivel molecular de estos nanomateriales complejos.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: