Atomic Force Microscopy
X-ray Crystallography
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Updated: Nov 5, 2025

Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Published on: July 3, 2021
Zhen Chen1, Yi Jiang2, Yu-Tsun Shao3
1School of Applied and Engineering Physics, Cornell University, Ithaca, NY 14853, USA. zhen.chen@cornell.edu david.a.muller@cornell.edu.
La picografía electrónica supera las aberraciones de la lente y la dispersión en la microscopia electrónica de transmisión. Esta técnica logra una resolución inferior a 20 picómetros, lo que permite la obtención de imágenes a escala atómica y la localización del átomo dopante en 3D.
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