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Atomic Force Microscopy01:08

Atomic Force Microscopy

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Atomic force microscopy (AFM) is a type of scanning probe microscopy that can analyze topographic details of various specimens like ceramics, glass, polymers, and biological samples. AFM offers over 1000 times more resolution than the optical imaging system. Images generated from AFM are three-dimensional surface profiles, offering an advantage over the flat, two-dimensional images from other imaging techniques.
The AFM Probe
The probe is regarded as the heart of any AFM setup and comprises the...
3.8K
X-ray Crystallography02:18

X-ray Crystallography

24.8K
The size of the unit cell and the arrangement of atoms in a crystal may be determined from measurements of the diffraction of X-rays by the crystal, termed X-ray crystallography.
Diffraction
Diffraction is the change in the direction of travel experienced by an electromagnetic wave when it encounters a physical barrier whose dimensions are comparable to those of the wavelength of the light. X-rays are electromagnetic radiation with wavelengths about as long as the distance between neighboring...
24.8K

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La picografía de electrones alcanza los límites de resolución atómica establecidos por las vibraciones de la red

Zhen Chen1, Yi Jiang2, Yu-Tsun Shao3

  • 1School of Applied and Engineering Physics, Cornell University, Ithaca, NY 14853, USA. zhen.chen@cornell.edu david.a.muller@cornell.edu.

Science (New York, N.Y.)
|May 21, 2021
PubMed
Resumen

La picografía electrónica supera las aberraciones de la lente y la dispersión en la microscopia electrónica de transmisión. Esta técnica logra una resolución inferior a 20 picómetros, lo que permite la obtención de imágenes a escala atómica y la localización del átomo dopante en 3D.

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Área de la Ciencia:

  • Ciencias de los materiales
  • La física
  • Microscopía

Sus antecedentes:

  • Los microscopios electrónicos de transmisión (TEM) ofrecen un potencial de resolución atómica debido a las longitudes de onda cortas de los electrones.
  • La calidad de la imagen se degrada por las aberraciones de la lente y la dispersión múltiple de electrones en las muestras.
  • La resolución TEM actual es significativamente limitada en comparación con el tamaño intrínseco de los átomos.

Objetivo del estudio:

  • Para superar las limitaciones en la resolución TEM causadas por las aberraciones de la lente y la dispersión múltiple.
  • Para demostrar un método para lograr imágenes de resolución atómica casi intrínseca.
  • Para permitir la localización precisa en 3D de los átomos de dopante dentro de los materiales.

Principales métodos:

  • Utilizó la picografía electrónica, una técnica de imágenes computacionales.
  • Desarrolló métodos para resolver inversamente el problema de dispersión múltiple de electrones.
  • Corregido por las aberraciones de la sonda electrónica inherentes a TEM.

Principales resultados:

  • Se ha logrado un desenfoque instrumental de menos de 20 picómetros.
  • Demostró una respuesta de fase lineal incluso en muestras gruesas.
  • Anchos de columna atómicos medidos limitados sólo por las fluctuaciones térmicas atómicas.
  • Se han localizado con éxito los átomos de dopaje atómico incrustados en 3D con precisión subnanométrica a partir de una sola medición.

Conclusiones:

  • La pictografía de electrones mejora significativamente la resolución TEM al corregir las aberraciones y la dispersión.
  • El método desarrollado permite obtener imágenes cercanas al límite atómico teórico.
  • El análisis preciso de dopantes atómicos en 3D es factible con esta técnica avanzada de microscopía.