Field Effect Transistor
Biasing of FET
Bipolar Junction Transistor
MOSFET
MOSFET: Enhancement Mode
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
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Updated: Jul 6, 2025

A Standard and Reliable Method to Fabricate Two-Dimensional Nanoelectronics
Published on: August 28, 2018
Darsith Jayachandran1, Rahul Pendurthi2, Muhtasim Ul Karim Sadaf3
1Engineering Science and Mechanics, Penn State University, University Park, PA, USA. darsith6@gmail.com.
Los investigadores demuestran una nueva integración tridimensional (3D) de nanomateriales bidimensionales (2D) para dispositivos semiconductores avanzados. Este avance permite circuitos integrados altamente densos y multifuncionales más allá de las capacidades actuales de silicio.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: