Memoria ultrarrápida de alta resistencia basada en el deslizamiento de ferroeléctricos

Kenji Yasuda1,2, Evan Zalys-Geller1, Xirui Wang1

  • 1Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA 02138, USA.

Science (New York, N.Y.)
|June 6, 2024
PubMed
Resumen

Exploramos un nuevo transistor de efecto de campo ferroeléctrico (FeFET) utilizando ferroelectricidad deslizante en nitruro de boro 2D. Este dispositivo es prometedor para la próxima generación de memoria no volátil con conmutación rápida y alta resistencia.