Análisis estructural a escala múltiple de nanocristales de emisión inducidos por agregación mediante la combinación

Shitao Wu1, Jianyu Zhang2, Jing Zhang3

  • 1Shanghai Key Laboratory of High-resolution Electron Microscopy & School of Physical Science and Technology, ShanghaiTech University, Shanghai 201210, China.

Resumen

Los investigadores desarrollaron un método de análisis estructural a múltiples escalas para materiales de emisión inducida por agregación (AIE, por sus siglas en inglés). Esta técnica revela cómo el estrés mecánico afecta la fluorescencia AIE a nivel molecular, ayudando en el diseño de nuevos materiales luminiscentes.