Microscopia interferométrica de dispersión plasmónica: Descodificación de la química dinámica de las interfaces de

Gang Wu1, Jun-Hao Wan1, Chen Qian1

  • 1Hefei National Laboratory for Physical Sciences at the Microscale, Department of Environmental Science and Engineering, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China.

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Resumen

La microscopia interferométrica de dispersión plasmónica (PSIM) ofrece imágenes de alta resolución de nanomateriales en las interfaces. Esta técnica permite la observación en tiempo real de las transformaciones de una sola nanopartícula y los procesos electroquímicos, lo que hace avanzar la investigación en nanociencia.