Adaptación de las propiedades electrónicas y optoelectrónicas del 2D-SiC a través de defectos y dopaje: un estudio de

Md Mahfuzul Haque1,2, Sajid Muhaimin Choudhury1

  • 1Department of Electrical and Electronic Engineering, Bangladesh University of Engineering and Technology Dhaka 1205 Bangladesh sajid@eee.buet.ac.bd.

RSC advances
|August 27, 2025
PubMed
Resumen

La ingeniería de defectos y dopaje en el carburo de silicio bidimensional (2D-SiC) conserva su brecha de banda directa, lo que permite diodos emisores de luz blanca (LED) de alto rendimiento. Esta investigación pone de relieve el 2D SiC