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Updated: Sep 10, 2025

In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx
Published on: May 13, 2020
Recocido selectivo con láser DUV de femtosegundos para la modulación de las propiedades eléctricas en el inversor
Joo Hyun Jeong1, Won Woo Lee1, Sang Jik Kwon2
1Department of Semiconductor Engineering, Gachon University, Seongnam City 13120, Republic of Korea.
Los transistores de película delgada de oxinitruro de zinc (ZnON) dopados con nitrógeno ofrecen una alternativa al óxido de gallio-zinco de indio (IGZO). El recocido láser ultravioleta profundo permite una modulación rápida de la tensión de umbral para dispositivos electrónicos confiables.
Área de la Ciencia:
- Ciencias de los materiales
- Física de los semiconductores
- Ingeniería de dispositivos
Sus antecedentes:
- El óxido de gallio zinc amorfo (a-IGZO) es un semiconductor de óxido prevalente, pero se enfrenta a limitaciones como altas temperaturas de procesamiento y costo de indio.
- El oxinitruro de zinc dopado con nitrógeno (ZnON) presenta una alternativa prometedora, procesado a temperatura ambiente y que ofrece reducción de las vacantes de oxígeno para mejorar el rendimiento y la estabilidad.
Objetivo del estudio:
- Investigar la aplicación del recocido láser selectivo de femtosegundo ultravioleta profunda (DUV fs) para la modulación del voltaje de umbral (Vth) en los transistores de película delgada ZnON (TFT).
- Evaluar el rendimiento de los TFT de ZnON modulados en Vth y demostrar su idoneidad para circuitos electrónicos.
Principales métodos:
- El recocido selectivo por láser DUV fs aplicado a la región del canal de los TFT de ZnON.
- Caracterización de las propiedades eléctricas, incluida la modulación de la tensión de umbral, de los TFT de ZnON prístinos y recocidos con láser.
- Fabricación y ensayo de un inversor NMOS utilizando TFT de ZnON modulado en Vth.
Principales resultados:
- Modulación Vth rápida alcanzada en microsegundos mediante recocido láser DUV fs, sin procesamiento al vacío.
- Los TFT de ZnON exhibieron una mayor movilidad y estabilidad de efecto de campo en comparación con IGZO.
- Los inversores NMOS fabricados demostraron un rendimiento confiable, validando el potencial del ZnON recocido con láser.
Conclusiones:
- El recocido láser DUV fs es una técnica eficaz y rápida para modular las características eléctricas de los TFT de ZnON.
- ZnON ofrece una alternativa viable, rentable y estable a a-IGZO para aplicaciones de semiconductores.
- El recocido láser es muy prometedor para la fabricación de diversos circuitos lógicos y dispositivos electrónicos.
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