Análisis de agrupación jerárquica para posicionar dos eventos de intrusión en diferentes ubicaciones utilizando...

Área de la Ciencia:

• Optoelectrónica y sus derivados
• Procesamiento de señales
• Aprendizaje automático

Sus antecedentes:

• Los sistemas de detección de intrusiones (IDS) son cruciales para la seguridad.
• Los interferómetros Mach-Zehnder ofrecen capacidades de detección muy sensibles.
• La localización precisa de múltiples eventos simultáneos sigue siendo un desafío.

Objetivo del estudio:

• Desarrollar y validar un método de análisis de agrupación jerárquica para localizar con precisión dos eventos de intrusión simultáneos.
• Aplicar este método a un sistema de interferómetro Mach-Zehnder dual para una detección mejorada de intrusiones.
• Para evaluar la precisión de localización de la técnica propuesta.

Principales métodos:

• Simuló dos eventos de intrusión simultáneos golpeando las fibras de detección de un interferómetro Mach-Zehnder dual.
• Se analizan las señales en sentido horario (CW) y en sentido contrario (CCW) utilizando la transformada de Fourier para determinar los retrasos de tiempo.
• Se empleó el análisis de agrupación jerárquica dos veces: primero en datos de corto período de tiempo, luego en 100 pares de señales secuenciales con relaciones de amplitud espectral.

Principales resultados:

• El primer análisis de agrupación identificó ubicaciones de eventos de intrusión individuales.
• El segundo análisis de agrupación determinó con éxito las ubicaciones respectivas de dos eventos de intrusión simultáneos.
• Demostró una precisión de localización dentro de 21,55 metros en un perímetro de fibra de 1036 m.

Conclusiones:

• El análisis de agrupación jerárquica es eficaz para identificar múltiples intrusiones simultáneas detectadas por un interferómetro Mach-Zehnder dual.
• El método propuesto ofrece una solución viable para mejorar la precisión de los sistemas de detección de intrusiones por fibra óptica.
• Esta técnica tiene implicaciones prácticas para asegurar la infraestructura y los perímetros críticos.