Autenticación de productos electrónicos falsificados mediante imágenes de tiempo de vuelo en THz rápidas

Hyeonseung Ryu1, Byung Hee Son1, Jihwan Kim1

  • 1Department of Physics and Department of Energy Systems Research, Ajou University, Suwon 16499, Republic of Korea.

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Resumen

Este estudio introduce imágenes de tiempo de vuelo en terahercios rápidos (THz ToF) para detectar productos electrónicos falsificados. La técnica revela de manera no destructiva las estructuras internas, identificando efectivamente los dispositivos falsos y los chips de circuitos integrados mal utilizados.