MOS Capacitor
MOSFET: Enhancement Mode
Characteristics of MOSFET
MOSFET: Depletion Mode
MOSFET
Small-Signal Analysis of MOSFET Amplifiers
También podría leer
Artículos vinculados a este trabajo por autores compartidos, revista y gráfico de citas.
Updated: Sep 9, 2025

In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx
Published on: May 13, 2020
Lorenzo Benatti1, Tommaso Zanotti1, Francesco Maria Puglisi1
1Dipartimento di Ingegneria "Enzo Ferrari", Università di Modena e Reggio Emilia, Via P. Vivarelli 10/1, 41125 Modena, MO, Italy.
Este estudio introduce un circuito de sesgo optimizado para pseudo-resistores de efecto de campo de semiconductores de óxido metálico (MOSFET), mejorando el diseño del circuito integrado al reducir el área, la compensación y el consumo de energía.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: