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Updated: Sep 9, 2025

Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics
Published on: September 28, 2016
Modelado de MOSFET de trincheras con precisión de pre-silicio a través de simulaciones avanzadas de TCAD y validación
Ammar Tariq1, Giovanni Minardi2, Valeria Cinnera Martino2
1Department of Mathematical and Computer Sciences, Physical Sciences and Earth Sciences (MIFT), University of Messina, 98166 Messina, Italy.
Este estudio introduce un flujo de trabajo virtual para extraer modelos SPICE para MOSFET de potencia utilizando simulaciones TCAD, eliminando la necesidad de prototipos físicos. Esto acelera los ciclos de diseño y mejora la precisión de las características dinámicas.
Área de la Ciencia:
- Ingeniería eléctrica
- Física de los dispositivos de semiconductores
- Electrónica de cómputo
Sus antecedentes:
- La extracción de modelos MOSFET SPICE de potencia tradicional se basa en gran medida en datos experimentales de silicio, que a menudo requieren múltiples iteraciones de prototipos costosas.
- Optimizar el rendimiento del dispositivo y garantizar parámetros eléctricos precisos antes de la fabricación es un desafío importante en el diseño de semiconductores.
- Los métodos de simulación existentes pueden carecer de la fidelidad necesaria para una predicción precisa de las características dinámicas sin validación física.
Objetivo del estudio:
- Presentar una metodología novedosa y totalmente virtual para extraer modelos precisos de SPICE de MOSFET de potencia.
- Permitir a los diseñadores optimizar el rendimiento del dispositivo y extraer parámetros eléctricos exclusivamente de las simulaciones TCAD.
- Para evitar la necesidad de prototipos iniciales de silicio, reduciendo así el tiempo y los costos de desarrollo.
Principales métodos:
- Utilizó herramientas avanzadas de TCAD (diseño asistido por computadora de tecnología) para generar una estructura de dispositivo MOSFET de potencia realista.
- Características eléctricas clave obtenidas directamente de las simulaciones TCAD.
- Se realizó una extracción precisa del modelo SPICE e integración del macromodelo basada en datos simulados.
- Validación dinámica del modelo SPICE extraído mediante una prueba de carga de puerta en entornos TCAD y SPICE.
Principales resultados:
- Se logró un excelente acuerdo entre las simulaciones TCAD y SPICE para la prueba de carga de la puerta, con menos del 2% de error para Qgs y Qgd.
- Demostró la capacidad de generar simulaciones de dispositivos muy fieles antes de la fabricación de hardware.
- Se han extraído con éxito parámetros eléctricos precisos para los MOSFET de potencia, incluidos los de una aplicación de fusibles electrónicos.
Conclusiones:
- El flujo virtual propuesto evita efectivamente la necesidad de prototipos iniciales de silicio en el desarrollo de MOSFET de potencia.
- Este enfoque innovador acelera significativamente el proceso de diseño y reduce los costos asociados con la creación de prototipos y las repeticiones de diseño.
- La metodología mejora la precisión de las características transitorias y dinámicas, cruciales para los MOSFET en aplicaciones específicas como los fusibles electrónicos.
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