Caracterización de la dinámica de la portadora en absorbentes saturables mediante espectroscopia óptica no lineal en

Optics letters
|August 29, 2025
PubMed
Resumen

Desarrollamos un nuevo método de dos etapas que combina el escaneo Z y la espectroscopia de absorción transitoria para la caracterización detallada de los espejos de absorción saturables de semiconductores (SESAM). Este enfoque mide con precisión los parámetros ópticos no lineales y la dinámica del portador para el análisis avanzado de materiales.