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Updated: Jan 8, 2026
09:10
The Frequency Domain Thermoreflectance Technique for Thermal Property Measurements
Published on: December 5, 2025
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Reconstrucción del espectro de reflexión DBR basada en ASE-FFT y análisis de reflexión interna en diodos láser
Optics express
|December 19, 2025
Resumen
Este estudio presenta un método no destructivo de transformada rápida de Fourier basada en emisión espontánea amplificada (ASE-FFT) para mapear reflexiones internas en láseres modulados eléctricamente sintonizables (TEML). La técnica caracteriza con precisión la reflectividad del reflector de Bragg distribuido (DBR) y los desplazamientos espectrales sin equipo externo.
Área de la Ciencia:
- Fotónica; Óptica Integrada; Láseres de Semiconductores
Sus antecedentes:
- Los láseres modulados eléctricamente sintonizables (TEMLs) integrados monolíticamente requieren una caracterización precisa de las propiedades ópticas internas.
- Los métodos de análisis no destructivos son cruciales para optimizar el rendimiento y el rendimiento en circuitos fotónicos integrados (PICs).
Objetivo del estudio:
- Desarrollar y validar un método no destructivo en el chip para analizar las características de reflexión interna en TEMLs.
- Cuantificar la reflectividad del reflector de Bragg distribuido (DBR), los desplazamientos espectrales y las reflexiones de interfaz dentro de los TEMLs.
Principales métodos:
- Aplicación de la transformada rápida de Fourier basada en emisión espontánea amplificada (ASE-FFT) a espectros por debajo del umbral.
- FFT inversa selectiva de la sección DBR para reconstruir su espectro de Bragg intrínseco.
- Análisis de la relación de amplitud armónica para la estimación de la pérdida de la cavidad.
Principales resultados:
- Se logró una reflectividad DBR del 21% a 1542,2 nm y un desplazamiento al rojo de ~3,2 nm de la longitud de onda de Bragg con una corriente DBR de 50 mA.
- Se cuantificó una reducción de la reflexión de ~11 dB de un recubrimiento antirreflectante y reflexiones residuales de la interfaz activa-pasiva.
- Se observó un estrechamiento espectral inducido por absorción y un aumento de la línea base en la respuesta en el dominio de la distancia debido al sesgo del modulador de electroabsorción.
Conclusiones:
- El método ASE-FFT proporciona una herramienta de baja complejidad, en tiempo real y resuelta espacialmente para caracterizar reflexiones en TEMLs.
- Esta técnica es aplicable para la caracterización espectral y el mapeo de reflexiones de varios circuitos fotónicos integrados.
- El método elimina la necesidad de fuentes de luz externas o interferómetros, simplificando el análisis en el chip.
