AFM de alta velocidad con escaneo de punta en disolventes orgánicos: una herramienta versátil para visualizar

Honami Matsui1, Christian Ganser2, Kenta Tamaki3

  • 1Department of Applied Physics, The University of Osaka, 2-1 Yamadaoka, Suita, Osaka 565-0871, Japan.

Resumen

La microscopía de fuerza atómica de alta velocidad (HS-AFM) ahora funciona en disolventes orgánicos. Una nueva celda de vidrio permite que la HS-AFM con escaneo de punta observe la dinámica a nanoescala de ensamblajes supramoleculares y polímeros en sus entornos nativos.