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Updated: Jan 7, 2026

Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
Published on: December 5, 2015
Bazlul Karim1, Luka Pirker1, Jan Plšek1
1J. Heyrovský Institute of Physical Chemistry, Czech Academy of Sciences, Dolejškova 2155/3, 182 23 Prague 8, Czech Republic.
La exfoliación directa de disulfuro de molibdeno (MoS2) sobre titanio reactivo (Ti) causa degradación. Las capas de MoS2 más gruesas ofrecen una estabilidad mejorada, lo que sugiere potencial para la ingeniería de contactos con metales reactivos.
Área de la Ciencia:
Sus antecedentes:
Objetivo del estudio:
Principales métodos:
Principales resultados:
Conclusiones: