Elevación de

Ruth Birch1, Shuheng Li1, Sharang Sharang2

  • 1Department of Materials Engineering, UBC, Vancouver, Canada.

Micron (Oxford, England : 1993)
|January 7, 2026
PubMed
Resumen

Este estudio presenta un método para el análisis de materiales en 3D utilizando microscopía electrónica de barrido (FIB-SEM) de haz de iones enfocado por plasma y difracción de retrodispersión de electrones (EBSD). La técnica permite la caracterización detallada de la estructura y deformación del material para mejorar el diseño y modelado de materiales.