Orientación Cristalina y Mapeo de Defectos en Zeolitas Sensibles al Haz de Electrones con Difracción Kikuchi de

Michael L Barsoum1, Tirzah M Abbott2,3, Steven D Jacobsen2,4

  • 1Department of Materials Science and Engineering, Northwestern University, Evanston, Illinois 60208, United States.

Nano letters
|January 15, 2026
PubMed
Resumen

Un nuevo método de alto rendimiento que utiliza difracción Kikuchi de transmisión casi axial ofrece imágenes de alta resolución de zeolitas porosas. Esta técnica visualiza la heterogeneidad estructural crucial para la catálisis y la adsorción, avanzando en la ciencia de materiales.