Observación en tiempo real por TEM de la evolución microestructural en nanocables de plata bajo calentamiento y

Katarzyna Bejtka1,2, Marco Allione1, Carlo Ricciardi1

  • 1Department of Applied Science and Technology, Politecnico di Torino, 10129 Torino, Italy.

ACS applied electronic materials
|February 16, 2026
PubMed
Resumen

Este estudio observó directamente nanocables de plata (Ag NWs) bajo estrés eléctrico y térmico usando microscopía electrónica de transmisión in situ. Revela que la electromigración y el calentamiento de Joule causan la ruptura, mientras que los fenómenos de reconexión muestran autocuración y comportamiento memristivo en los Ag NWs.