Determinación cuantitativa de la resolución espacial lateral en microscopía confocal Raman mediante escaneo

Zhong-Jie Wang1,2, Tao Liu1,2, Xue-Lu Liu1,2

  • 1State Key Laboratory of Semiconductor Physics and Chip Technologies, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China.

PubMed
Resumen

Este estudio presenta un nuevo método para medir la resolución espacial lateral (LSR) en microscopía confocal Raman utilizando grafeno. La LSR óptima depende del enfoque preciso del láser y del tamaño del pinhole, crucial para la imagen a nanoescala.