Array de Defectos Topológicos de Alta Densidad por Interferencia de Dos Pasos Fotoalineación de Interferencia de Dos

Sunqian Liu1, Inge Nys1, Kristiaan Neyts2

  • 1Liquid Crystals and Photonics Group, Department of Electronics and Information Systems, Ghent University, Ghent, Belgium.

Resumen

Los investigadores desarrollaron un método escalable de fotoalineación en dos pasos para crear defectos topológicos de cristal líquido (LC) de alta densidad. Esta técnica aumenta significativamente la densidad de defectos para aplicaciones ópticas avanzadas.