Medición del factor de reflexión 0/45 utilizando un espectroradiómetro de matriz corregido de no linealidad

Área de la Ciencia:

• Ingeniería óptica Ingeniería óptica.
• Metrología de la metrología.
• La espectroradiometría de espectro

Sus antecedentes:

• La medición del factor de reflexión abarca amplios rangos dinámicos, lo que requiere sistemas altamente lineales para la precisión.
• Los métodos existentes se enfrentan a desafíos con la no linealidad y la luz dispersa espectral, lo que afecta la incertidumbre de la medición.

Objetivo del estudio:

• Para describir una configuración óptica para la medición del factor de reflexión.
• Para permitir la medición de linealidad dentro de la misma configuración.
• Para minimizar la incertidumbre de medición en la determinación del factor de reflectancia.

Principales métodos:

• Desarrolló una instalación de calibración de linealidad que integra una fuente de cuerpo negro, apertura y difusor blanco.
• La radiación espectral asegurada y la distribución coinciden con las mediciones del factor de reflectancia de una esfera integradora.
• Se modificó una configuración óptica tanto para el factor de reflectancia como para la evaluación de la linealidad.

Principales resultados:

• La instalación de calibración logra rangos de radiación espectral idénticos a la integración de fuentes de luz esféricas.
• La configuración reduce significativamente la no linealidad y los impactos de luz dispersa espectral.
• Se logró una incertidumbre de medición del factor de reflexión 0/45 de 1,20%-0,54% (k=2) para blancos difusos blancos de 380-780 nm.

Conclusiones:

• La configuración óptica descrita proporciona un método conveniente y preciso para la medición del factor de reflectancia utilizando espectroradiómetros de matriz.
• La calibración de linealidad integrada minimiza la incertidumbre, mejorando la confiabilidad de las mediciones espectrales.
• Este enfoque ofrece una mayor precisión para las mediciones de reflectancia difusa en todo el espectro visible.