High-Resolution Mass Spectrometry (HRMS)
Super-resolution Fluorescence Microscopy
Overview of Microscopy Techniques
Mass Spectrum: Interpretation
Overview of Electron Microscopy
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Updated: Feb 26, 2026

Imaging Corrosion at the Metal-Paint Interface Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
Published on: May 6, 2019
Yifeng Jia1, Maria Elena Castellani1,2, Kieran Cheung1
1The Department of Chemistry, The Chemistry Research Laboratory, The University of Oxford, 12 Mansfield Road, Oxford OX1 3TA, United Kingdom.
Un nuevo instrumento de espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) ofrece imágenes de alto rendimiento. Este microscopio avanzado proporciona alta resolución de masa y espacial para analizar muestras biológicas como tejido cerebral de ratón.
Área de la Ciencia:
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Objetivo del estudio:
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Principales resultados:
Conclusiones: