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El papel de las imperfecciones estructurales en los diodos emisores de luz azul y los diodos láser basados en InGaN
1The author is in the Department of Research and Development, Nichia Chemical Industries, 491 Oka, Kaminaka, Anan, Tokushima 774, Japan.
Resumen
Las capas activas de nitruro de gallio indio (InGaN) permiten diodos emisores de luz (LED) y diodos láser de alta eficiencia. Los estados de energía localizados en InGaN contribuyen a la eficiencia del dispositivo, incluso con dislocaciones presentes.
Área de la Ciencia:
- Ciencia de los materiales Ciencia de los materiales.
- Física del estado sólido Física del estado sólido
- La optoelectrónica es la óptica electrónica.
Sus antecedentes:
- Los dispositivos emisores de luz basados en nitruro de galio (GaN) son cruciales para la iluminación moderna.
- Lograr una alta eficiencia en los dispositivos basados en GaN ha sido un desafío significativo, particularmente con respecto a los defectos de los materiales.
Objetivo del estudio:
- Para investigar el uso de Indium Gallium Nitride (InGaN) capas activas para diodos emisores de luz de alta eficiencia (LED) y diodos láser.
- Comprender el papel de la fluctuación de la composición y las dislocaciones en el rendimiento del dispositivo.
Principales métodos:
- Fabricación de LED de pozo cuántico InGaN/GaN y diodos láser de pozo cuántico múltiple.
- Utilizando epitaxialmente GaN lateralmente cubierto en zafiro para reducir las dislocaciones de roscado.
- Caracterización de la eficiencia y la vida útil del dispositivo.
Principales resultados:
- Los LED de alta eficiencia que emiten luz ámbar, verde, azul y ultravioleta se lograron utilizando capas activas de InGaN.
- Los LED basados en InGaN demostraron altas eficiencias luminosas (5-30 lúmenes por vatio) a pesar de las altas densidades de dislocación de rosca.
- Los diodos láser de pozo cuántico múltiple InGaN exhibieron una vida útil de más de 10.000 horas.
Conclusiones:
- Los estados de energía localizados debido a la fluctuación de la composición de InGaN en InGaN son clave para una alta eficiencia del dispositivo.
- El GaN epitaxialmente lateralmente cubierto por vegetación reduce efectivamente las dislocaciones de roscado, mejorando el rendimiento del dispositivo.
- Las dislocaciones tienen un impacto negativo en el umbral de densidad de corriente de los diodos láser.