フェムト秒解像度で測定された半導体における非熱的な融解

A Rousse1, C Rischel, S Fourmaux

  • 1Laboratoire d'Optique Appliquée, ENSTA, CNRS UMR7639, Ecole Polytechnique, Chemin de la Hunière, Palaiseau, France. rousse@enstay.ensta.fr

Nature
|March 10, 2001
PubMed
まとめ

超高速X線 difrractionは,半導体の融解は,熱エネルギーではなく,導かれた原子運動によるフェムト秒で発生することを明らかにします. この新しい技術は,急速な非均衡の過程における原子構造の変化を直接探査する.