Gunjan Agarwal1, Laura A Sowards, Rajesh R Naik
1Materials and Manufacturing Directorate, Air Force Research Laboratory, Wright-Patterson Air Force Base, Ohio 45433, USA.
原子力顕微鏡 (AFM) を用いたディップペンナノリトグラフィー (DPN) は,タッピングモードにより,柔らかい表面にペプチドを優しく堆積させることができます. この新しいアプローチは,改善された材料イメージングとより広範な基板互換性のためにDPNを修正します.
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